TH511 半导体C-V特性分析仪
性能特点
■ 栅极电压VGS：0 - ±40V
■ 漏极电压VDS：0 - ±200V
■ 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示
■mportant; font-size: inherit !important;"> 一体化设计：LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件
■ 单管器件（点测）、模组器件（列表扫描）、曲线扫描(选件)三种测试方式
■ 标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件（TH513仅1通道）
■ CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描
■ 电容快速充电技术，实现快速测试
■ 接触检查Cont
■ 通断测试OP_SH
■ 自动延时设置
■ Crss Plus功能：解决高频下Crss负值问题
■ 高压击穿保护：DS瞬间短路，保护仪器
■ Interlock安全锁功能：增加高压防护墙（仅TH513）
■ Cs-V功能：二极管结电容CV特性测试分析
■ 等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式
■ 10档分选