TH513 半导体C-V特性分析仪
性能特点
■ 栅极电压VGS：0 - ±40V
■ 漏极电压VDS：0 - ±3000V
■ 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示
■一体化设计：LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件
■ 单管器件（点测）、模组器件（列表扫描）、曲线扫描(选件)三种测试方式
■ 标配2通道，可扩展至6通道，可测单管、多芯或模组器件（TH513仅1通道）
■ CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描
■ 电容快速充电技术，实现快速测试
■ 接触检查Cont
■ 通断测试OP_SH
■ 自动延时设置
■ Crss Plus功能：解决高频下Crss负值问题
■ 高压击穿保护：DS瞬间短路，保护仪器
■ Interlock安全锁功能：增加高压防护墙（仅TH513）
■ Cs-V功能：二极管结电容CV特性测试分析
■ 等效模式转换功能，可选Cs或Cp模式
■ 10档分选
TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。
仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。
CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析（此功能为选件）。
仪器设计频率为1kHz-2MHz，Vgs电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。