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| 同惠 TH3321 *单相数字功率计 TH3321 *单相数字功率计(含同惠TH33XX数字功率计系统软件V1.0.4)性能特点■测试电压: 5-600V■测试电流: 0-2A, 分辨率:1μA■测 |
2026-07-09 | |
| 同惠 TH521-02-1800 功率器件分析仪 TH521-02-1800 功率器件分析仪性能特点TH521 的常规特性•高达3.5kV/1800A的宽广工作范围•从-50°C到+250°C的全自动快速热测试 |
2026-07-09 | |
| 同惠 TH521-02-600 功率器件分析仪 TH521-02-600 功率器件分析仪性能特点TH521 的常规特性•高达3.5kV/1800A的宽广工作范围•从-50°C到+250°C的全自动快速热测试 |
2026-07-09 | |
| 同惠 TH513 半导体C-V特性分析仪 TH513 半导体C-V特性分析仪性能特点■栅极电压VGS:0 - ±40V■漏极电压VDS:0 - ±3000V■四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Ci |
2026-07-09 | |
| 同惠 TH511 半导体C-V特性分析仪 TH511 半导体C-V特性分析仪性能特点■栅极电压VGS:0 - ±40V■漏极电压VDS:0 - ±200V■四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cie |
2026-07-09 | |
| 同惠 TH512 半导体C-V特性分析仪 TH512 半导体C-V特性分析仪性能特点■栅极电压VGS:0 - ±40V■漏极电压VDS:0 - ±1500V■四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Ci |
2026-07-09 | |
| 同惠 TH530-25100B 半导体器件雪崩能量测试仪 TH530-25100B 半导体器件雪崩能量测试仪性能特点■单通道和双通道 N/P或组合器件测试(MOSFET、IGBT以及二极管)■可测试高达2500 |
2026-07-09 |